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- GB/T 42969-2023 元器件位移损伤试验方法

【国家标准】 元器件位移损伤试验方法
本网站 发布时间:
2024-01-02
- GB/T 42969-2023
- 现行
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适用范围:
本文件描述了元器件位移损伤的试验方法。本文件适用于光电集成电路和分立器件,如电荷耦合器件(CCD)、光电耦合器、图像敏感器(APS)、光敏管等,用质子、中子进行位移损伤辐照试验。其他元器件的位移损伤辐照试验参照进行。
标准号:
GB/T 42969-2023
标准名称:
元器件位移损伤试验方法
英文名称:
Displacement damage test method for components标准状态:
现行-
发布日期:
2023-09-07 -
实施日期:
2024-01-01 出版语种:
中文简体
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