- 您的位置:
 - 中国标准在线服务网 >>
 - 全部标准分类 >>
 - 国家标准 >>
 - L23 >>
 - GB/T 14557-1993 射频同轴连接器电气试验和测量程序 反射系数
 
【国家标准】 射频同轴连接器电气试验和测量程序 反射系数
本网站 发布时间:
				
				
			- GB/T 14557-1993
 - 废止
 
				开通会员免费在线看70000余条国内标准,赠送文本下载次数,单本最低仅合13.3元!还可享标准出版进度查询、定制跟踪推送、标准查新等超多特权!  
					
						
						
							查看详情>>
						
					
				
		 
	      
    标准号:
GB/T 14557-1993
标准名称:
射频同轴连接器电气试验和测量程序 反射系数
英文名称:
Electrical tests and measuring procedures for ridio-frequency connectors:Reflection factor标准状态:
废止- 
          	
发布日期:
1993-07-31 - 
          	
实施日期:
1994-02-01 出版语种:
中文简体
- 推荐标准
 - 国家标准计划
 
- GB/T 11313.58-2023 射频连接器 第58部分:SBMA系列盲插射频同轴连接器分规范
 - GB/T 42207.5-2022 电子设备用连接器 产品要求 矩形连接器 第5部分:额定电压直流250 V额定电流30 A卡扣锁紧可重复接线电源连接器详细规范
 - GB/T 11313.42-2021 射频连接器 第42部分:CQN系列快速锁紧射频连接器分规范
 - GB/T 5095.2303-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-3部分:屏蔽和滤波试验 试验23c:连接器和附件的屏蔽效果 线注入法
 - GB/T 5095.2304-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-4部分:屏蔽和滤波试验 试验23d:时域内传输线的反射
 - GB/T 5095.2307-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-7部分:屏蔽和滤波试验 试验23g:连接器的有效转移阻抗
 - GB/T 5095.2501-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-1部分:试验25a:串扰比
 - GB/T 5095.2502-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗)
 - GB/T 5095.2503-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分:试验25c:上升时间衰减
 - GB/T 5095.2504-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分:试验25d:传输时延
 - GB/T 5095.2505-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-5部分:试验25e:回波损耗
 - GB/T 5095.2507-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-7部分:试验25g:阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR)
 - GB/T 11313.35-2021 射频连接器 第35部分:2.92系列射频连接器分规范
 - GB/T 11313.40-2021 射频连接器 第40部分:2.4系列射频连接器分规范
 - GB/T 11313.41-2021 射频连接器 第41部分:CQA系列快速锁紧射频连接器分规范
 
17704692435
		    	

 电子版: 24元
            		
					/ 折扣价:
						21 元
					
					


						
						
											
											