【国外标准】 Test method for low substitutional atomic carbon content of single crystal silicon by Fourier transform infrared absorption spectroscopy at room temperature

标准号：

JIS H 0616:2024

标准名称：

Test method for low substitutional atomic carbon content of single crystal silicon by Fourier transform infrared absorption spectroscopy at room temperature

英文名称：

标准状态：

发布日期：

实施日期：

出版语种：

标准ICS号：

中标分类号：

替代以下标准：

被以下标准替代：

引用标准：

采用标准：

页数：

字数：

开本：

起草人：

起草单位：

归口单位：

提出部门：

发布部门：