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GB/T 23413-2009 纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法 现行 发布日期 :  2009-04-01 实施日期 :  2009-12-01

本标准规定了利用X射线衍射线宽化法来测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。本标准采用的计算方法是近似函数法。
本标准适用于测定晶粒尺寸一般不大于100 nm,微观应变一般不大于0.1%的纳米材料。

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