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本标准规定了利用X射线光谱法测试电工钢表面涂层重量（厚度)的方法。本方法用于室温下测量试样单位面积上的涂层重量，其测量结果也可以用涂层厚度表示。本标准适用于表面涂层中含有稳定的、不受干扰的、X射线荧光强度较大的特性元素的电工钢，给定涂层材料的测量范围主要取决于可获得的特征X射线荧光强度和可接受的测量不确定度，并且因所使用的仪器设备和测量方式而不同。
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GB/T 19346的本部分规定了平面压强法和卷环法测量非晶纳米晶合金带材的叠片系数的方法。本部分适用于用快淬工艺制造的非晶纳米晶合金带材(以下简称带材)的叠片系数测量，其中平面压强法适用于矩形铁芯、粘接块体等用带材的叠片系数测量；卷环法适用于环形铁芯用带材的叠片系数测量。
本标准规定了采用X射线定向仪测定蓝宝石单晶晶向的方法。本标准适用于测定表面取向大致平行于低指数晶面的蓝宝石单晶材料。
本标准规定了电解质初晶温度测定的基本要求和测定过程中熔样的速度、初晶温度拐点的识别以及冷却速度等技术要求。本标准适用于采用步冷曲线法测定铝电解质的初晶温度。测定范围为800 ℃～1 000 ℃。
本标准规定了电工钢带（片)涂层绝缘电阻和附着性的测试方法。本标准适用于无取向和取向电工钢带（片)表面绝缘电阻和层间电阻的测试，以及无取向和取向电工钢带（片)绝缘涂层附着性的测试。
GB/T 19346的本部分规定了非晶纳米晶合金卷绕环形试样交流磁性能的测量方法。本部分适用于测量各种变压器和电感类元器件以及磁屏蔽用的非晶纳米晶软磁合金在50 Hz ~ 200 kHz频率范围内的相对幅值磁导率、比总损耗、比视在功率等交流磁性能。如果有合适的经过校准的仪器，频率上限可延伸到1 MHz，但此时再现性应适当放宽要求。
本标准规定了涡流法测试铜及铜合金导电率的方法原理、术语和定义、测试要求、操作方法和测试报告。
本标准适用于用涡流导电仪对不含铁磁性的铜及铜合金材料或产品进行导电率测试。
本标准规定了碳化硅单晶抛光片的平整度，即总厚度变化（TTV)、局部厚度变化（LTV)、弯曲度（Bow)、翘曲度（Warp)的测试方法。本标准适用于直径为50.8 mm、76.2 mm、100 mm，厚度0.13 mm～1 mm碳化硅单晶抛光片平整度的测试。
本标准规定了硅片翘曲度的非破坏性、自动非接触扫描测试方法。本标准适用于直径不小于50 mm，厚度不小于100 μm的洁净、干燥的切割、研磨、腐蚀、抛光、刻蚀、外延或其他表面状态硅片的翘曲度测试。本方法可用于监控因热效应和（或）机械效应引起的硅片翘曲，也可用于砷化镓、蓝宝石等其他半导体晶片的翘曲度测试。
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