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																IEC 60749-29:2011 EN-FR
																
															
														
														 
															
																Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test  
																
															
														
														
														 	
																现行
																
																
																
																
															
														
														
															
															
															发布日期 : 
															1970-01-01
															
															实施日期 : 
																
															
													
												
17704692435
		    	



		                         
 电子版:2331元
															 		
																	/ 折扣价:
																	
																		1982 元
																	
																
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